托托科技（苏州）有限公司-自旋轨道输运系统SOT

首页
产品中心
技术百科
客户案例
新闻中心
关于我们

自旋轨道输运系统

磁学分析设备

• 测试速度快、操作简单

· 高集成度的半导体两端/三端器件电输运测试系统

产品介绍

通过对半导体两端/三端逻辑器件进行磁阻、正常霍尔，反常霍尔，谐波霍尔测试，脉冲电流驱动磁畴翻转等一套完整的电输运测试，获得待测样品电学性能参数，例如霍尔电压，磁阻，写入功耗，读取稳定性，分析物理过程的机理，帮助制造商优化MRAM器件的设计和制造流程，提高其品质和性能指标。

资料下载

测试功能

脉冲驱动磁畴翻转测试

（a）脉冲驱动磁畴翻转示意图

（b）电流驱动磁畴翻转测量反常霍尔回线

（c）扫描写入脉冲/Write pulse，用读取脉冲/Read pulse来

采集霍尔电压，降低热效应

（d）设备装置示意图，器件和水平磁场的夹角为0°

脉冲驱动磁畴翻转反常霍尔接线设置

脉冲驱动磁畴翻转测试数据
反常霍尔测试

（a）器件结构（b）反常霍尔曲线（c）反常霍尔设备测试设置

反常霍尔接线设置

面外样品测试数据（上图）

面内样品测试数据（下图）
平面霍尔测试

（a）器件结构（b）平面霍尔随外磁场强度变化曲线（c）平面霍尔设备测试设置

平面霍尔接线设置

平面霍尔测试数据
谐波霍尔测试

（a）Longitudinal scheme/纵向测量，transverse scheme/横向测量

（b）纵向/横向，一阶和二阶谐波霍尔测量数据

（c）设备装置示意图

谐波霍尔测试接线图

小场谐波霍尔测试

大场谐波霍尔测试

（a）Longitudinal scheme/纵向测量，一阶和二阶测量谐波霍尔测量数据

（b）transverse scheme/横向测量，一阶和二阶谐波霍尔测量数据

（c）设备装置示意图，器件和水平磁场的夹角为4°

一次谐波霍尔测试数据（上图）

二次谐波霍尔测试数据（下图）

面内转角谐波霍尔测试

（a）面内转角测量SOT谐波霍尔信号示意图

（b）一阶和二阶谐波霍尔测量数据

（c）设备装置示意图

一次面内转角谐波霍尔测试数据（上图）

二次面内转角谐波霍尔测试数据（下图）
Loop shift表征DMI有效场测试

（a） Loop shift表征DMI有效场示意图

（b）水平磁场下，正负直流电流下反常霍尔回线

（c）反常霍尔回线偏置随电流密度的变化曲线

（d）偏置场随水平磁场变化曲线，得SOT有效场和DMI有效场

（e）反向水平辅助磁场对SOT有效场方向的调控

（f）正向水平水平辅助磁场对SOT有效场方向的调控

（g）设备装置示意图，器件和水平磁场的夹角为0，X轴磁铁提供水平方向磁场，Y轴磁铁提供样品法线方向的扫描磁场