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磁滞回线测量仪

磁学分析设备

• 8 s一条磁滞回线

• 小巧便捷

• 集成度高

• 操作简单

 

产品介绍

从当下主流的机械硬盘,到未来的磁性存储单元,磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。托托科技磁滞回线测量仪具备体积小、测量速度快、精度高、操作简单等优点,且不需要对样品进行加工或切片等操作。 通过对磁滞回线的分析,用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息,亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构,磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。

끂资料下载

应用案例

  • 设备实拍
  • 软件界面
  • 测试数据
  • 设备实拍
  • 软件界面
  • 测试数据

    测试数据

    测试样品结构(Si 衬底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)]2/X(2)/MgO (1)/Si (3) (厚度为纳米,X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf)

视频展示

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托托科技(苏州)有限公司

电话:4008-560-670

邮箱:marketing@tuotuot.com

 

新加坡办公室

TUOTUO TECHNOLOGY (SINGAPORE) PTE. LTD.

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邮箱:marketing@tuotuot.com

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