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产品介绍
磁光克尔显微镜综合测试设备,显微磁畴空间分辨率优于0.5微米,磁光克尔角分辨率优于0.1毫度,支持极向克尔、纵向克尔、横向克尔三种磁光克尔效应测量方式。在追踪平面内数百万点的磁畴动态信息的同时,可搭配探针台实现电学、磁学、光学同步观测。广泛应用于磁学和自旋电子学领域中磁光克尔效应,磁滞回线,磁畴翻转或扩展等观测。
应用案例
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磁性薄膜材料显微磁畴测量
(a)为样品 CoTb(6 nm)/SiN(4 nm)在零磁场附近出现迷宫畴以及孤立斯格明子磁泡结构(Skyrmions Bubble),图中单个稳定的Skyrmions Bubble 的尺寸为1 μm。为研究基于 SK-RM赛道存储器提供光学无损伤探测支持。
(b)为样品 Pt(4 nm)/Co (5 nm)/Ta(2 nm)在磁场的驱动实现磁畴运动和翻转,磁矩“1”和“0”信息状态清晰可见。
(c)290K下,样品CuCr2Te/Cr2Te3,磁场驱动磁畴翻转。上图显示的是 180 Oe磁场下的磁畴态,下图显示的是 -180 Oe 磁场下的磁畴态。(d)样品SrRuO3磁畴 (e)样品FeSiB磁畴 (f)样品Fe3GaTe2磁畴 (g)样品CoTb磁畴
视频展示
CoFeB 磁畴测试
SrRuO3 磁畴测试
CoTb 磁畴测试